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德國EPK新型高精度涂層測厚儀MiniTest 7400
詳細信息| 詢價留言品牌:德國EPK 加工定制:否 型號:MiniTest 7400 類型:涂層 測量范圍:0至35毫米 mm 顯示方式:LCD數(shù)顯 電源電壓:6 V 外形尺寸:153x89x32 mm 顯示方式:LCD數(shù)顯 德國EPK 新型高精度涂層測厚儀MiniTest 7400
產(chǎn)品名稱:新型高精度涂層測厚儀
規(guī)格型號:MiniTest 7400
品牌廠家:德國EPK
德國EPK 新型高精度涂層測厚儀MiniTest 7400 產(chǎn)品介紹:
創(chuàng)新的用戶界面概念結(jié)合便捷的數(shù)據(jù)管理,讓新產(chǎn)品MiniTest7400成為今天測量系統(tǒng)理想的解決方案。其產(chǎn)品優(yōu)勢有:
• 所有金屬基材上的非破壞性測量
• 多種圖形顯示選項
• 菜單控制界面,更強的數(shù)據(jù)和配置管理
• 用于簡易配置評估和數(shù)據(jù)設(shè)置報告的PC軟件
• 測量厚度高達35mm的各種耐磨探頭
• SIDSP®技術(shù)提升精確度和重現(xiàn)性
德國EPK 新型高精度涂層測厚儀MiniTest 7400 探頭介紹:
MiniTest 7400 探頭的適應(yīng)性:
有色金屬的導(dǎo)電性可能會有所不同。對這些基體使用自動補償,基于電渦流原理可以使用N型探頭或者FN型探頭的N功能,可以精確測量多種導(dǎo)電性不同的有色金屬材料,無需特別在基體上校準(zhǔn)儀器。
所有的SIDSP®探頭充分地適應(yīng)測量各種幾何形狀的樣品?梢詫Σ灰(guī)則形狀表面做出補償。當(dāng)您在無涂層基體上校零時,整個量程范圍都在這個特定的形狀和材料基礎(chǔ)上進行校準(zhǔn)。
→ 種類繁多的可換探頭,滿足各種應(yīng)用要求。可以通過推拉式連接系統(tǒng)輕松地更換探頭。
→ 兩用型FN探頭自動識別基體材料。探頭與被測物表面接觸后,儀器自動切換到合適的測量原理。因此,應(yīng)用錯誤會被淘汰,加快了測量進程。
MiniTest 7400 探頭設(shè)計選擇:
不同的線纜插口類型更加靈活,來適應(yīng)測試要求。每個標(biāo)準(zhǔn)探頭都可以提供直線纜插口或直角設(shè)計,后者可以測量難以進入的類似管和中空零件。
由于油漆或粉塵污染的惡劣壞境需要特殊的探頭。為了給在惡劣環(huán)境中提供*終保護,MiniTest 7400提供了一個特制的堅固探頭系列(HD探頭)。這些探頭具有特殊的灌漿密封用來保護探頭設(shè)備。外部的彈簧裝置使探頭易于清洗。
對于粗糙表面,“F2 HD”型探頭是特別適用于粗糙表面的探頭。
MiniTest 7400 探頭技術(shù)參數(shù)及特點:
1.多點校準(zhǔn),在實驗室條件下符合提供的標(biāo)準(zhǔn)2.零點校準(zhǔn),并且校準(zhǔn)值和預(yù)期的涂層厚度接近
3.使用精密支架,不適用HD探頭
4.如果選擇“快速”,測量速度主要取決于操作
5.根據(jù) DIN 55350第13部分
6.多點校準(zhǔn)值優(yōu)于獲得的指定數(shù)據(jù)
7.包括涂層
德國EPK 新型高精度涂層測厚儀MiniTest 7400 主機技術(shù)參數(shù)和基本配置:
● 主機技術(shù)參數(shù):
數(shù)據(jù)記憶組數(shù):500
存儲數(shù)據(jù)量:約250,000個讀數(shù)
統(tǒng)計值(每批組):讀數(shù)個數(shù),*大值,*小值,平均值,標(biāo)準(zhǔn)偏差,變異系數(shù),組統(tǒng)計值(標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置/自由配置),過程能力指數(shù)CP和CPK,直方圖,趨勢圖
校準(zhǔn)程序符合國際標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范:ISO,SSPC,瑞典標(biāo)準(zhǔn),澳大利亞標(biāo)準(zhǔn)等
校準(zhǔn)模式:*多5點校準(zhǔn),使用者可調(diào)節(jié)補償值
極限值監(jiān)控:聲音、視覺報警提示超過極限值
測量單位:μm,mm,cm,mils,inch,thou
操作溫度:–10℃ … 60℃;14℉ … 140℉
存放溫度:–20℃ … 70℃;-4℉ … 158℉
數(shù)據(jù)接口: IrDA® 1.0紅外接口,可選USB和RS232適配器
電源:4節(jié)AA (LR06型)電池,或可選外接電源(90–240 V~/ 48–62 Hz)
規(guī)范和標(biāo)準(zhǔn):DIN EN ISO 1461,2064,2178,2360,2808,3882,19840,AS3894;SS 184160,SSPC-PA 2,IMO-PSPC,ASTM B 244,B 499,D 7091,E376
顯示:160 x 160像素 LCD 帶背光
尺寸:153 mm x 89 mm x 32 mm;6 inch x 3.5 inch x 1.3 inch
重量:310 g;11 oz。(主機包括電池)
● 基本配置:
主機:
MiniTest 7400、MSoft 7*軟件、德文/英文/法文/西班牙文操作說明、速查卡、4節(jié)AA電池,LR06型、塑料手提箱
探頭:
可選SIDSP®探頭包括證書、校準(zhǔn)用校準(zhǔn)箔和零基板
德國EPK 新型高精度涂層測厚儀MiniTest 7400 可選配件:
德國EPK 新型高精度涂層測厚儀MiniTest 7400 新概念優(yōu)勢詳細解讀:
直觀的菜單控制及與上下文相關(guān)的聯(lián)機幫助,使用簡易。
大背光按鍵,即使戴著手套操作,也倍感舒適。
大背光圖形顯示頻提供極佳的觀察效果,即使在晚上或能見度極低的條件下使用也極其方便。
配置管理幫助MiniTest 7400簡化了校準(zhǔn)及參數(shù)設(shè)置,無需*技能,也可在*短的時間內(nèi)完成困難測量任務(wù)。
先進的數(shù)據(jù)管理如PC一樣提供快速創(chuàng)建文件夾和易于設(shè)置批組。
除了數(shù)字顯示讀數(shù),層次清楚的顯示統(tǒng)計值和讀數(shù)包括趨勢圖和直方圖、過程能力指數(shù)”Cp”和“Cpk”以及組統(tǒng)計值。
錯誤的讀數(shù)可以從批組中刪除以防止產(chǎn)生錯誤的統(tǒng)計值。
龐大的數(shù)據(jù)儲存器為必要的數(shù)據(jù)管理,可保存高達500批組的250,000個讀數(shù)。
為滿足高精度測量的要求,7400探頭可達到5點校準(zhǔn)(包括零點)。
預(yù)設(shè)的校準(zhǔn)方法符合工業(yè)準(zhǔn)則和ISO 19840,SSPC,“瑞典”,“澳大利亞”的測量標(biāo)準(zhǔn)。 此外,延伸的特殊校準(zhǔn)方法也適用于粗糙表面的測量。
為了方便建立和評估測量值組和各種數(shù)據(jù)格式的輸出,標(biāo)準(zhǔn)配置包括計算機軟件包“MSoft 7 Professional”。軟件輸出數(shù)據(jù)如文本、Excel®分析總表或PDF文檔,并允許筆記和注解條目。特點:測量樣品的圖片可以添加到數(shù)據(jù)報告中。
配備眾多的接口,MiniTest 7400可以連接各種外接設(shè)備。紅外接口(IrDA®1.0)可作為標(biāo)準(zhǔn)配置。一個多用接線盒可用來作為一個USB接口連接各種設(shè)備,如外借電源、耳機、腳踏開關(guān)或警報器。對于單個裝置連接,則可選擇RS 232和USB連接線以及IrDA®//USB接口轉(zhuǎn)換器。模擬信號處理時代已成過去,數(shù)字信號處理將成為未來的趨勢。
SIDSP®技術(shù)優(yōu)勢明顯:
EPK此項探頭內(nèi)部數(shù)字信號處理新技術(shù)為涂層測厚領(lǐng)域的創(chuàng)新奠定了新標(biāo)準(zhǔn)。高精度,高重現(xiàn)性,對溫度變化不敏感,適應(yīng)性強,這些都是SIDSP®的主要特點。創(chuàng)新的生產(chǎn)技術(shù)結(jié)合自動化校準(zhǔn)過程,而且每個探頭可獨立校準(zhǔn),從而生產(chǎn)出高質(zhì)量7400的探頭。這主要源于充分利用了SIDSP技術(shù)賦予的優(yōu)勢。無與倫比的精密生產(chǎn)過程使得每個探頭都如出一轍的優(yōu)質(zhì)。
重現(xiàn)性:
讀數(shù)的可靠性主要取決于讀數(shù)的重現(xiàn)性。電磁干擾是*普遍的導(dǎo)致誤差的根源,所以保護測量系統(tǒng)和探頭電纜免受這些干擾非常重要。
跟傳統(tǒng)技術(shù)不同,SIDSP®在探頭內(nèi)部產(chǎn)生和控制激發(fā)信號。回傳的信號直接進行數(shù)字轉(zhuǎn)換和處理從而提供測量厚度值。厚度值通過探頭電纜數(shù)字化傳輸?shù)斤@示裝置,也就是說:在這種情況下模擬測量系統(tǒng)的信號傳輸過程中沒有更多干擾。即使您的測量工件需要特別長的電纜線也沒問題,加長的電纜線同樣具有極強的抗干擾能力。
EPK 的SIDSP®探頭具有極高的重現(xiàn)性。將探頭放在同一測量點測量幾次,每次您都可以得到基本一樣的結(jié)果,再次證明了SIDSP®探頭的優(yōu)秀性能。
生產(chǎn)過程:
在生產(chǎn)過程中,SIDSP探頭要經(jīng)過特殊的校準(zhǔn)程序,探頭在特征曲線上高達50個點進行校準(zhǔn),如此多個點的校準(zhǔn)使得特征曲線在整個量程范圍內(nèi)都十分精確以致可以消除其偏差。校準(zhǔn)數(shù)據(jù)被永久儲存在傳感器,無論與哪一種SIDSP顯示器相連,都可以迅速地被檢索。此外,生產(chǎn)過程中,探頭的溫度性能永久地決定整個工作溫度范圍。這樣,每個探頭都可以獨立調(diào)整溫度補償,在任何溫度即使溫度大幅度變動,特征曲線仍可保持其精確度。
留 言
- 聯(lián)系人:王裕彬
- 電 話:15820424470
- 手 機:15820424470
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