涂層的測定以及測厚儀的使用：
涂層測厚儀適用范圍廣、量程寬、操作簡便且價廉，是工業(yè)和科研使用*廣泛的涂層測厚儀器。
涂層厚度的測量方法主要有：楔切法涂層測量，光截法涂層測量，電解法涂層測量，厚度差測量法，稱重法涂層測量，χ射線熒光法涂層測量，β射線反向散射法涂層測量，電容法涂層測量，磁性測量法和渦流測量法測量厚度等。這些方法中前五種是有損檢測，測量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗(yàn)。隨著科學(xué)技術(shù)的日益進(jìn)步，特別是近年來，我單位引入單片微機(jī)技術(shù)后，采用磁性測量涂層的LYT-2000系列和渦流法的LW-100系列的涂層測厚儀向微型、智能、多功能、高精度、實(shí)用化的方向進(jìn)了一大步。測量的分辨率已達(dá)1微米，精度可達(dá)1%，有了大幅度的提高。儀器的測量原理
如圖
 

一、電渦流測量原理

高頻交流信號在探頭線圈中產(chǎn)生電磁場，探頭靠近導(dǎo)體時，就在其中形成渦流。探頭離導(dǎo)電基體愈近，則渦流愈大，反射阻抗也愈大。這個反饋?zhàn)饔昧勘碚髁颂筋^與導(dǎo)電基體之間距離的大小，也就是導(dǎo)電基體上非導(dǎo)電涂層厚度的大小。由于這類涂層測厚儀探頭專門測量非鐵磁金屬基體上的涂層厚度，所以通常稱為非磁性探頭。非磁性探頭采用高頻材料做線圈芯。與磁感應(yīng)原理比較，主要區(qū)別是涂層測厚儀探頭不同，信號頻率不同，信號的大小、標(biāo)度關(guān)系不同。采用電渦流原理的涂層測厚儀，原則上對所有導(dǎo)電基體上的非導(dǎo)電涂層均可測量，如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其它鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽極氧化膜。涂層材料有一定的導(dǎo)電性，通過校準(zhǔn)同樣也可測量，但要求兩者導(dǎo)電率之比至少相差3-5倍。雖然鋼鐵基體亦為導(dǎo)體，但這類任務(wù)還是采用磁性原理測量涂層厚度較為合適。

二、磁感應(yīng)法測量涂層的原理

采用磁感應(yīng)原理測量涂層時，利用探頭經(jīng)過非鐵磁涂層而流入鐵磁基體的磁通的大小，來測定涂層厚度。也可以測定與之對應(yīng)的磁阻大小，來表示其涂層覆層厚度。涂層越厚，則磁阻越大，磁通越小。利用磁感應(yīng)的涂層測厚儀，原則上可以有導(dǎo)磁基體上的非導(dǎo)磁涂層厚度。一般要求基體導(dǎo)磁率在500以上。如果涂層材料也有磁性，則要求與基體的導(dǎo)磁率之間的差足夠大（如鋼上鍍鎳）。當(dāng)軟芯上繞著線圈的探頭放在被測樣片上時，涂層測厚儀自動輸出測試電流或測試信號。早期的產(chǎn)品采用指針式表頭，測量感應(yīng)電動勢的大小，涂層測厚儀將該信號放大后來指示涂層厚度。近幾年來采用了*設(shè)計(jì)的集成電路，引入單片微機(jī)，增加先進(jìn)的工具，使測量精度和重現(xiàn)性有了大幅度的提高。磁性原理涂層測厚儀可應(yīng)用來精確測量鋼鐵表面的油漆層，瓷、搪瓷防護(hù)層，塑料、橡膠涂層，以及化工石油業(yè)的各種防腐涂層的厚度。

三、 磁吸引力測量原理及涂層測厚儀

永久探頭與導(dǎo)磁鋼材之間的吸力大小與處在這兩者之間的距離成一定比例關(guān)系。這個距離就是涂層的厚度。根據(jù)這一原理制成涂層測厚儀，只要涂層與基體的導(dǎo)磁率之間足夠大，就可進(jìn)行涂層測量。鑒于大多數(shù)工業(yè)品采用結(jié)構(gòu)鋼和熱軋冷軋鋼板沖壓成型，所以磁性測厚儀應(yīng)用*廣。涂層測厚儀基本結(jié)構(gòu)由磁鋼，接力簧，標(biāo)尺及自動停機(jī)構(gòu)組成。磁鋼與被測物吸合后，將測量簧在其后逐漸拉長，拉力逐漸增大。當(dāng)拉力剛好大于吸引力，磁鋼脫離的一瞬間記錄下拉力的大小即可獲得涂層厚度。這種儀器的特點(diǎn)是操作簡便、堅(jiān)固耐用、不用電源，測量前無須校準(zhǔn)，價格比較低，很適合車間做現(xiàn)場質(zhì)量控制。

影響涂層測厚儀測量的若干因素。磁性法測量厚度受基體金屬性變化的影響（在實(shí)際應(yīng)用中，低碳鋼磁性的變化可認(rèn)為是輕微的），為了避免熱處理和冷加工因素的影響，應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對儀器進(jìn)行校準(zhǔn)；基體金屬的電導(dǎo)率對測量有影響，而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成份及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對儀器進(jìn)行校準(zhǔn)；每一種儀器都有一個臨界厚度，大于這個厚度，測量就不受基體金屬厚度的影響；對試件表面形狀的陡變敏感，因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進(jìn)行測量是不可靠的；試件的曲率對測量有影響，隨著曲率半徑的減少明顯地增大，因此，在彎曲試件的表面上測量也是不可靠的；探頭會使軟涂層試件變形，因此在這些試件上測不出可靠的數(shù)據(jù)；基體金屬和涂層的表面粗糙度對測量有影響。粗糙度增大，影響增大，粗糙表面會引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差，每次測量時，在不同的位置上應(yīng)增加測量的次數(shù)，以克服這種偶然誤差。